研究開発
方針
- 専用リソース
- プロセス／製品の改善
- 新規／特許取得済み製品
—3Dソリッドモデリング（CAD）
—プロトタイピング
— ラボでの試験、解析、評価
—
有限要素解析（FEA）
Capabilities
- 製作／ツール室
- サポート／試作部品の試験
- アプリケーションラボ
- 此武-H学
- 走査型電子顕微鏡 (SEM)
FEA
コンセプト設計から最終設計にいたるまで全面的なFEAが可能
損傷解析
走査型電子顕微鏡（SEM）、エネルギー分散型X線分光解析（EDS）、さらにはX線回折による完璧な損傷解析
プロトタイプレポート
プロトタイピングを最適化する自社研究
